DIC Microscope

위상차 현미경과 편광현미경의 원리에서 한층 더 개발된 현미경으로 미분 간섭 현미경이라고도 불립니다.
이것은 물체에서 출발 한 빔이 편광 판을 지나면 일정한 방향으로 만 진동하는 빔이 통과 하며 다시 이 빔은 DIC 프리즘을 통과 하면서 프리즘의 특성으로 인해 한 방향의 빔과 굴절에 의한 다른 한 빔으로 분리가 됩니다.

분리가 된 빛은 다시 특수 프리즘을 통과 하면서 두 빔이 합쳐지게 되는데 이때 간섭 현상이 생기게 됩니다.
결국 이것은 빛의 간섭을 이용하여 평면상으로 보이던 물체를 높낮이가 있는 입체감이 보이도록 고안된 현미경입니다.
반도체회로, 금속조직의 합금상태, 세균의 형태 등 실제로 높낮이 보는데 효율적입니다.

TFT-LCD의 tap 본딩 후 공정에서 고해상도 미분간섭현미경을 이용하여 압착 위치 정도, 도전 볼의 밀도, 압흔 강도 등을 검사할 수 있습니다.